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J-GLOBAL ID：201002250554024059   整理番号：10A0144427

μs光パルス下の非晶質SeおよびSe₉₅Te₅膜の光黒化

Photodarkening of amorphous Se and Se₉₅Te₅ films under μs light pulses

著者 (4件)： FLAXER E. (Afeka-Tel-Aviv Academic Coll. of Engineering, 69107 Tel-Aviv, ISR) ,  KLEBANOV M. (Dep. of Physics, Ben-Gurion Univ. of the Negev, Beer-Sheva 84105, ISR) ,  LYUBIN V. (Dep. of Physics, Ben-Gurion Univ. of the Negev, Beer-Sheva 84105, ISR) ,  ABRAHAMOFF D. (Dynamic Media Solutions Lab., 69512 Tel-Aviv, ISR)
資料名： Optics Communications  (Optics Communications)
巻： 283  号： 7  ページ： 1366-1369  発行年： 2010年04月01日 
JST資料番号： A0678B  ISSN： 0030-4018  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： μsの光パルス照射したときの非晶質SeおよびSe₉₅Te₅膜の光黒化現象を調べた。個別の1,10,100μsのそれぞれの間の光黒化過程と連続パルス間で進行する過程を記録して解析した。光黒化した膜は照射や加熱を加えずに暗闇に放置すると,当初の光学特性を回復することが分かった。光黒化は光パルスのフルエンスにきわめて強く依存する。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *半導体薄膜 ,  *パルスレーザ照射 ,  *非晶質 ,  *セレン ,  *セレン化合物 ,  テルル化物 ,  *光黒化 ,  フルエンス ,  エネルギー依存性 ,  透過率
準シソーラス用語： レーザフルエンス

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  レーザ照射・損傷  (BK16040S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光パルス ,  非晶質 ,  Se ,  光黒化