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J-GLOBAL ID:201002250838607402   整理番号:10A1539499

ピエゾ電気共鳴デバイスのためのエピタキシャル3C-SiC(100)上に成長したAlN薄膜

AlN thin films grown on epitaxial 3C-SiC (100) for piezoelectric resonant devices
著者 (6件):
資料名:
巻: 97  号: 14  ページ: 141907  発行年: 2010年10月04日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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300-450°Cの温度で交流反応性マグネトロンスパッタリングを用いて,Si(100)上のエピタキシャル立方晶窒化シリコン(3C-SiC)上にC軸方向に高度に配向したヘテロエピタキシャル窒化アルミニューム(AlN)を成長させた。得られたAlN膜をX線回折,走査電子顕微鏡,および透過電子顕微鏡でキャラクタライズした。2ポート表面音響素子をAlN/3C-SiCコンポジット構造上に組み立て,期待したRayleighモードは高い音速5200m/sを示した。この結果はピエゾ共鳴素子を製作するためにエピタキシャル3C-SiC上のAlNを利用することができることを実証するものである。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
圧電気,焦電気,エレクトレット  ,  圧電デバイス  ,  酸化物薄膜 

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