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J-GLOBAL ID：201002251271521486   整理番号：10A0553617

ToF-SIMSを用いた指紋の外因性汚染の検出

Detection of exogenous contaminants of fingerprints using ToF-SIMS

著者 (6件)： SZYNKOWSKA M. I. (Technical Univ. Lodz, Lodz, POL) ,  CZERSKI K. (Technical Univ. Lodz, Lodz, POL) ,  ROGOWSKI J. (Technical Univ. Lodz, Lodz, POL) ,  PARYJCZAK T. (Technical Univ. Lodz, Lodz, POL) ,  PARCZEWSKI A. (Inst. of Forensic Res., Krakow, POL) ,  PARCZEWSKI A. (Jagiellonian Univ., Krakow, POL)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 42  号： 5  ページ： 393-397  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 法医学的研究,特に指紋の画像化および様々な物質の痕跡の検出におけるToF-SIMSの応用を紹介した。指紋の分析に関する結果から,ToF-SIMSが天然には指紋上に存在せず,犯罪場面と関連付けられる極微量の外因性物質の同定を可能とし,法医学的研究において非常に効率的で有効なツールであることが示された。ToF-SIMS画像化によって,試料表面の可視化が可能となり,微小領域の化学分析が伴われた。研究された表面上でのある原子あるいは分子の得られた分布は,法医学的調査において非常に有効で重要であり,たとえば指紋上での毒性物質あるいは薬剤の存在などの,証拠の価値を大きく増大できた。

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *指紋 ,  *汚染 ,  法医学 ,  センサ
準シソーラス用語： *TOF-SIMS ,  指紋センサ

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  法医学  (GA03000B)

タイトルに関連する用語 (3件)： TOF-SIMS ,  指紋 ,  汚染