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J-GLOBAL ID：201002251538032528   整理番号：10A0164588

ZnOナノロッドとTiバッファ層の構造的性質と電気的性質

Structural and electrical properties of ZnO nanorods and Ti buffer layers

著者 (6件)： KWAK C.-h. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Pohang Univ. of Sci. and Technol., Pohang 790-784, KOR) ,  KIM B.-h. (Dep. of Physics and Inst. of Fusion Sci., Chonbuk National Univ., Jeonju 561-756, KOR) ,  PARK C.-i. (Dep. of Physics and Inst. of Fusion Sci., Chonbuk National Univ., Jeonju 561-756, KOR) ,  SEO S.-y. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Pohang Univ. of Sci. and Technol., Pohang 790-784, KOR) ,  KIM S.-h. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Pohang Univ. of Sci. and Technol., Pohang 790-784, KOR) ,  HAN S.-w. (Div. of Sci. Education, Inst. of Fusion Sci., and Inst. of Sci. Education, Chonbuk National Univ., Jeonju 561-756, KOR)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 96  号： 5  ページ： 051908  発行年： 2010年02月01日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有機金属化学気相蒸着プロセスにより,良好な垂直整列のZnOナノロッドをTiバッファ層上に合成した。構造解析からZnOナノロッドはc軸およびab面内で良好に整列していることが示された。透過電子顕微鏡(TEM)から,バッファ層は非晶質でZnOナノロッド内に相互拡散していた。エネルギー分散分光法(EDS)分析から,Tiバッファ層は僅かに酸化されていることを明らかにした。拡張X線吸収微細構造からTEMとEDSの結果を確認した。I-V特性測定から,Tiバッファ層を用いると20倍電流密度が増加しすることが示され,Tiバッファ層とZnOナノロッド間の優れた電気コンタクトが示唆された。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *酸化亜鉛 ,  化合物半導体 ,  チタン ,  *バッファ層 ,  *ナノロッド ,  半導体薄膜 ,  *MOCVD ,  結晶方位 ,  相互拡散 ,  EXAFS ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： 拡張X線吸収微細構造

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： ZnOナノロッド ,  Ti ,  バッファ層 ,  構造的性質 ,  電気的性質