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J-GLOBAL ID：201002251838959895   整理番号：10A0617209

書き込み及び読み出しの各種のクリアランス下の記録性能に及ぼす中間層の厚さの効果の実験的研究

An Experimental Study of Effects of Interlayer Thickness on Recording Performance Under Various Writing and Reading Clearances

著者 (3件)： ZHANG Kezhao (Hitachi Global Storage Technol., CA, USA) ,  JUNG H.S. (Hitachi Global Storage Technol., CA, USA) ,  CHOE Gunn (Hitachi Global Storage Technol., CA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 46  号： 6  ページ： 1722-1725  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 書き込み及び読み出し中の磁気ヘッドの様々なクリアランス下で,垂直記録媒体の記録性能に及ぼす中間層の厚さの効果を調べた。記録媒体の中間層は(CrX/NiW/Ru)の3層から成り,非晶質CrXシード層の厚さdは0~25nmである。各種のクリアランス下で,かさね書き(OW)信号及び磁気書き込み幅(MWW)に対する中間層の厚さ依存性を調べた。中間層の厚さが減少すると,OW及びMWWはいずれも増大した。中間層の厚さは信号と雑音の比(SNR)に著しい影響を及ぼした。書き込み中のクリアランスが大きい場合,中間層の厚さが減少するとSNRは改善したが,クリアランスが小さい場合にはSNRは悪化した。中間層の厚さは,最終的記録性能を決める記録層と磁気ヘッドの相互作用に複雑な影響を与える。

シソーラス用語： 磁気ヘッド ,  クリアランス ,  *記憶媒体 ,  垂直磁気記録 ,  多層構造 ,  厚み ,  オーバライト ,  SN比 ,  ルテニウム ,  タングステン合金 ,  ニッケル含有合金 ,  磁性薄膜 ,  非晶質 ,  データ読取 ,  データ書込 ,  *クロム合金
準シソーラス用語： *厚さ依存性 ,  *中間層

分類 (2件)： 電子・磁気・光学記録  (NC06020F) ,  磁性材料  (NA04040H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 書き込み ,  読み出し ,  クリアランス ,  中間層 ,  厚さ ,  実験的研究