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J-GLOBAL ID:201002251842290061   整理番号:10A0566505

Siドープβ-Ga2O3薄膜の光学的特性及び結晶性

Optical property and crystallinities of Si doped β-Ga2O3 thin films
著者 (10件):
資料名:
号:ページ: 99-102  発行年: 2009年12月 
JST資料番号: X0042B  ISSN: 1884-6742  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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ガリウム及び酸素の化学的に豊富でエコロジー的な元素に存在する,太陽電池,フラットパネルディスプレイ,及び他の素子のためのβ-Ga2O3膜の透明電極を,焼結Ga2O3ターゲットを用いたRFマグネトロンスパッタリングにより,石英あるいはシリコン基板上に成長させた。RFスパッタリング後の熱アニーリングにより,多結晶β-Ga2O3が成長した。平坦なβ-Ga2O3膜を得るために,スパッタリングにおいて,酸素を導入することが重要であった。エネルギーギャップに亘る光吸収係数は,Ar/O比の減少とともに増大した。Siの不純物も,成長膜中にドープした。光吸収係数の測定から,β-Ga2O3エネルギーギャップが,堆積膜におけるSi濃度の増加とともに増大すると結論した。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  光物性一般 

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