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J-GLOBAL ID：201002252264161683   整理番号：10A0942937

Ptでサンドイッチした多結晶強誘電性Pb(Zr,Ti)O₃薄膜の光電流に及ぼす界面層厚の効果

Interface layer thickness effect on the photocurrent of Pt sandwiched polycrystalline ferroelectric Pb(Zr,Ti)O₃ films

著者 (6件)： CAO Dawei (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China) ,  ZHANG Hui (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China) ,  FANG Liang (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China) ,  DONG Wen (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China) ,  ZHENG Fengang (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China) ,  SHEN Mingrong (Dep. of Physics and Jiangsu Key Lab. of Thin Films, Soochow Univ., Suzhou 215006, People’s Republic of China)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 97  号： 10  ページ： 102104  発行年： 2010年09月06日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PtでサンドイッチしたPb(Zr_0.2Ti_0.8)O₃(PZT)薄膜について,光電流に及ぼすトップPt/PZT界面層厚の効果に関する実験証拠を,光電流挙動の解析に基づいて報告した。従来,金属/強誘電薄膜の光電流はSchottky接触障壁の高さに起因するとされて来た。しかし,著者らの結果は,Pt/PZT界面接触の光電流が障壁高さだけでなく,界面層厚,つまり界面層でのビルトイン電場によっても決まることを示唆した。このような光電流現象の背後にある機構を提示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 多結晶 ,  *強誘電体 ,  *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  誘電体薄膜 ,  *光電流 ,  境界層 ,  *界面 ,  電子顕微鏡観察 ,  走査電子顕微鏡 ,  原子間力顕微鏡 ,  ヒステリシス ,  X線光電子スペクトル ,  超薄膜 ,  電極 ,  白金 ,  Schottky障壁 ,  ポテンシャル障壁 ,  層厚
準シソーラス用語： 界面層

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  光伝導,光起電力  (BM03050J)

タイトルに関連する用語 (12件)： Pt ,  サンドイッチ ,  多結晶 ,  強誘電性 ,  Pb ,  Zr ,  Ti ,  O3 ,  薄膜 ,  光電流 ,  界面 ,  層厚