抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本研究では,直径100μm以下の微小径穴内壁の表面粗さや真円度,真直度,円筒度などの形状精度,穴径をプローブの測定分解能0.01μm以下および形状測定の繰り返し誤差±0.05μm以下で高精度に測定することを目的とし,微小径・低測定力・高アスペクト比のプローブが容易に得られ,測定範囲が広く走査プローブとして利用可能な光ファイバを用いた新しい測定原理を提案した。本報では,試作した測定装置の繰り返し性などの性能評価を目的として,標準粗さ片および加工した直径100μmの微小径穴を測定した。これにより得た主な知見を次に示した。1)標準粗さ片を10回繰返し測定した結果,繰り返し誤差はタッチトリガーモードで最大±0.1μm,スキャニングモードで最大±0.03μmであること,2)直径100μmの小径穴をスキャニングモードで10回繰返し測定した結果,繰り返し誤差は最大で±0.03μmであること,3)標準粗さ片の全く同一箇所の測定ではないため,詳細な比較はできないが,本測定システムと市販の表面粗さ測定器により標準粗さ片を測定した結果は山の波長や形状および振幅の絶対値に関して同様の傾向を示すこと。