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J-GLOBAL ID：201002253918937038   整理番号：10A0669672

電子ビーム誘起照射損傷 非晶質乾燥リン酸ナトリウムバッファの泡立ち応答

Electron Beam-Induced Radiation Damage: The Bubbling Response in Amorphous Dried Sodium Phosphate Buffer

著者 (1件)： MASSOVER William H. (Rutgers Univ.-Newark, NJ, USA)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 16  号： 3  ページ： 346-357  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 無機結晶欠陥と界面,ナノ材料,固有ポリペプチドとマクロ分子集合,高分子,および様々な個々の分子の高分解能構造を決定するために透過電子顕微鏡(TEM)と透過電子回折(TED)を使用するという目的は,放射線損傷によって損なわれる。電子照射は結合破壊,電荷変化,結晶格子欠陥,加熱,物質損失,物質再分布を生じる。本報では,電子照射に対する非晶質乾燥リン酸ナトリウムバッファの複雑な応答における動的事象を説明した。この軽原子非結晶混合塩固体は,電子ビーム照射に対して高感度を示すが,異常に長期の応答を持つ。発展する照射誘起微細構造変化は泡立ち応答として可視化されることから,これは,電子照射損傷を直接検出,研究するための高速で容易な定性的手段を表わす。

シソーラス用語： *電子照射 ,  *照射損傷 ,  非晶質 ,  乾燥 ,  *リン酸ナトリウム ,  緩衝液 ,  格子欠陥 ,  界面 ,  ナノ構造 ,  ポリペプチド ,  高分子 ,  高分解能 ,  透過型電子顕微鏡 ,  電子回折 ,  開裂反応 ,  電荷 ,  加熱 ,  高感度 ,  微細構造 ,  可視化 ,  泡立ち ,  ナノ材料
準シソーラス用語： バッファー ,  構造変化 ,  透過電子回折

分類 (1件)： 放射線による構造と物性の変化一般  (BK16121W)

タイトルに関連する用語 (8件)： 電子ビーム ,  誘起 ,  照射損傷 ,  非晶質 ,  リン酸ナトリウム ,  バッファ ,  泡立ち ,  応答