部分放電によるボイド表面劣化と絶縁破壊特性との関係の検討

小谷嘉則; 豊田晃一; 加藤丈佳; 鈴置保雄; 古森郁尊

文献

J-GLOBAL ID：201002254757009638 整理番号：10A0249539

部分放電によるボイド表面劣化と絶縁破壊特性との関係の検討

Relation between void surface degradation by Partial Discharge and Breakdown

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著者 (5件)： , , , ,
資料名：
巻： DEI-10 号： 46-56 ページ： 31-36 発行年： 2010年02月12日
JST資料番号： Z0908B 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

絶縁体のポイド中に発生する部分放電(PD)の変化と劣化の関係解明のため,ポイド中に発生するPDの測定や,PD放電発光の観測などを行ってきた。その結果,PDパターンはポイド中に存在する電気陰性度の高いガス(酸素,水など)に強く影響されること,ポイド表面の劣化やそれに伴う導電性の変化などが,放電箇所に影響を与えていることなどが分った。次いで,ポイド内部の部分放電による絶縁破壊機構解明のため,開放ポイドと密閉ポイドでのPD放電による表面劣化と絶縁破壊の関係を調べた。その結果,開放ポイドでは,PDの集中箇所は時間とともに移動し続け,密閉ポイドでは,PDは1点又は数点に集中し絶縁破壊までの時間は短くなった。これらのことは,劣化生成物へのPDの集中と,PD特性に影響を与える雰囲気ガスの変化により説明され,密閉ポイドの破壊には累積的な効果が寄与する可能性を示した。

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絶縁材料 , 電気絶縁材料

引用文献 (7件)：

F. Komori, N. Nishiguchi, M. Hikita, and T. Mizutani,:”Construction of expert system for degradation diagnosis and measurement system using personal computer -Application for degradation diagnosis of PD statistical parameter using phase information,”, Trans. IEE Japan, Vol.13-A, pp. 406-415(1993) 古森、西口、匹田、水谷:「部分放電自動計測・劣化診断エキスパートシステムプロトタイプ構築-位相情報を用いた放電諸量の解析と劣化診断への応用-」, 電学論A, 13, p.406-415(1993)
T. Takahashi, F. Komori, and Y. Suzuoki,:”The Effect of Void Wall and Surface to Occurrence Phase and Light Emission of Partial Discharge” National Convention Record, IEE Japan, 2-036(2004)(in Japanese) 高橋、古森、鈴置:「部分放電発生位相角特性と部分放電発光に対するボイド壁面及び表面の効果」, H16年度電気学会全国大会 2-036(2004)
D. Ohta, F. Komori, and Y. Suzuoki,:”Study on PD Degradation Mechanism by Taking Account of State of Void-Surface Degradation” National Convention Record, IEE Japan, 2-029(2006) 太田、古森、鈴置:「ボイド表面の劣化状態を考慮した部分放電劣化機構の検討」, H18年度電気学会全国大会 2-029(2006)(in Japanese)
M. Hikita, F. Komori, N. Nishiguchi and T. Mizutani,“Phase-resolved and time-sequential partial discharge pulse measurements in a metal-void-insulator system using a personal computer,” J. Phys. D: Appl. Phys., vol.27, pp. 1220-1228,(1994)
Suwarno, H. Ichikawa, Y. Suzuoki, T. Mizutani and K. Uchida,“Partial Discharge Patterns of electrical treeing in polyethylene,” Proc. 4th Int. Conf. Prop. Appl. Dielectr. Mat., pp. 379-382,(1994)

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