文献

J-GLOBAL ID：201002255846562096   整理番号：10A0857692

量子雑音,測定および増幅入門

Introduction to quantum noise, measurement, and amplification

著者 (5件)： CLERK A. A. (McGill Univ., Quebec, CAN) ,  DEVORET M. H. (Yale Univ., Connecticut, USA) ,  GIRVIN S. M. (Yale Univ., Connecticut, USA) ,  MARQUARDT Florian (Ludwig-Maximilians-Univ. Muenchen, Muenchen, DEU) ,  SCHOELKOPF R. J. (Yale Univ., Connecticut, USA)
資料名： Reviews of Modern Physics  (Reviews of Modern Physics)
巻： 82  号： 2  ページ： 1155-1208  発行年： 2010年04月 
JST資料番号： D0518A  ISSN： 0034-6861  CODEN： RMPHAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *量子雑音 ,  *拡大 ,  スペクトル ,  連続計測 ,  限界 ,  量子論 ,  応答 ,  検出 ,  レビュー ,  *量子測定 ,  量子限界 ,  線形応答 ,  位置検出
準シソーラス用語： 増幅 ,  *量子増幅 ,  雑音スペクトル

分類 (2件)： 雑音理論  (ND04020U) ,  量子力学一般  (BA06010C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 量子雑音 ,  増幅