文献

J-GLOBAL ID：201002256662675412   整理番号：10A0435157

YbMnO₃マルチフェロイックセラミックの誘電および時効挙動

Dielectric and aging behavior of multiferroic YbMnO₃ ceramics

著者 (4件)： WU Y.j. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Zhejiang Univ., Zheda Road 38, Hangzhou, Zhejiang 310027, CHN) ,  TANG L.h. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Zhejiang Univ., Zheda Road 38, Hangzhou, Zhejiang 310027, CHN) ,  LI H.l. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Zhejiang Univ., Zheda Road 38, Hangzhou, Zhejiang 310027, CHN) ,  CHEN X.m. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Zhejiang Univ., Zheda Road 38, Hangzhou, Zhejiang 310027, CHN)
資料名： Journal of Alloys and Compounds  (Journal of Alloys and Compounds)
巻： 496  号： 1-2  ページ： 269-272  発行年： 2010年04月30日 
JST資料番号： D0083A  ISSN： 0925-8388  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： YbMnO₃マルチフェロイックセラミックの誘電挙動および時効現象について調べた。温度範囲250~450Kにおいて活性化エネルギー0.43eVのDebye型の誘電緩和が観察された。時効時間の延長により誘電定数は減少し,ピーク位置は僅かに高温側にずれた。XRDおよびXPSの結果は相の分解および(あるいは)Mnイオンの価電子状態の変化は誘電時効の原因ではないことを示唆する。観察された時効現象は時間依存の欠陥ダイポール(正に帯電した酸素空格子点および負に帯電したMn欠陥により形成)の形成およびそれらの再配向の結果として説明できる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *イッテルビウム化合物 ,  マンガン酸塩 ,  *磁気電気効果 ,  エレクトロセラミック ,  *誘電緩和 ,  時効 ,  *誘電率 ,  *誘電正接 ,  温度依存性 ,  周波数依存性 ,  *複合欠陥 ,  空格子点 ,  *経時変化 ,  電気双極子
準シソーラス用語： *マルチフェロイック材料 ,  欠陥双極子

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (4件)： マルチフェロイック ,  セラミック ,  時効 ,  挙動