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J-GLOBAL ID：201002256708193841   整理番号：10A0581669

高分子電解質のブラシの表面力測定による研究

Polyelectrolyte brushes studied by surface forces measurement

著者 (1件)： KURIHARA Kazue (Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials (IMRAM), Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
資料名： Advances in Colloid and Interface Science  (Advances in Colloid and Interface Science)
巻： 158  号： 1-2  ページ： 130-138  発行年： 2010年07月12日 
JST資料番号： B0923A  ISSN： 0001-8686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリグルタミン酸(PLGA)とポリリジン(PLL)のイオン性鎖である,高分子電解質のブラシ層をLangmuir-Blodgett法によって調製し,種々のpH,塩濃度,及び鎖密度で表面力測定によって特性化した。その主な結果は,(1)力プロファイルから計算されるブラシ層の有効電荷密度が,高分子電解質のブラシのイオン性基の密度よりも非常に小さく,ほぼすべてのイオン性基がブラシ層中の対イオンによって中和されることを示唆する。(2)ブラシ層の厚みは,伸長した高分子電解質の長さに一致し,調べた塩濃度(0.43-10m)に実質的に無関係であった。(3)PLGAとPLLのブラシ層の初期弾性圧縮係数は,イオン化度の増加と共に増す一方,塩濃度の増加と共に,対イオンの浸透圧の低下のために減少する。(4)種々の重合度の高分子電解質のブラシ層間の応力プロフィルが,高分子電解質の等高線延長法に従って拡大された。類似の拡大が種々の塩濃度(0.43-10mM)とpHで得られた応力プロフィルでも見出された。(5)対イオンの浸透圧モデルは応力プロフィルの立体的要素を再現し,立体反発が主に対イオンの浸透圧のためであることを示唆した。(6)高分子電解質ブラシの特性,例えば,転送比,圧縮性,及び表面電位における密度依存性ジャンプが見出され,溶液中での高分子電解質の密度(鎖間距離)-依存性遷移の存在を示唆する。この遷移を説明する対イオンモデルを示す。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *高分子電解質 ,  *高分子ブラシ ,  *表面力 ,  ポリグルタミン酸 ,  ポリリジン ,  Langmuir-Blodgett膜 ,  電荷分布 ,  密度 ,  浸透圧 ,  圧縮性 ,  表面電位 ,  密度依存性
準シソーラス用語： 電荷密度

分類 (1件)： 高分子溶液の物理的性質  (CG02013S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高分子電解質 ,  ブラシ ,  力測定 ,  研究