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J-GLOBAL ID：201002257183654008   整理番号：10A0754174

超伝導ワイヤにおける臨界電流密度の歪感度研究のためのプローブの設計

Design of a Probe for Strain Sensitivity Studies of Critical Current Densities in Superconducting Wires

著者 (4件)： BARZI Emanuela (Fermi National Accelerator Lab., IL, USA) ,  DHANARAJ Nandhini (Fermi National Accelerator Lab., IL, USA) ,  LOMBARDO Vito (Fermi National Accelerator Lab., IL, USA) ,  TURRIONI Daniele (Fermi National Accelerator Lab., IL, USA)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 20  号： 3  ページ： 1626-1629  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： 伝導 ,  ワイヤ ,  臨界電流密度 ,  歪 ,  感度 ,  研究 ,  プローブ ,  設計