文献

J-GLOBAL ID：201002257401403977   整理番号：10A0390888

軟X線分光法で調べたイオンと分子の溶媒和

The solvation of ions and molecules probed via soft X-ray spectroscopies

著者 (1件)： AZIZ Emad F. (Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie c/o BESSY II, Albert-Einstein Str. 15, 12489 Berlin, DEU)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 177  号： 2-3  ページ： 168-180  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異なる溶剤(即ち,水,アルコール)中へのイオンまたは分子の溶解はその近くの形状および電子構造によって変化する。この概論の焦点は,軟X線方式のX線吸収分光法を用いて溶質の電子構造の変化を調べ,また溶液の反応を調べることにある。理論モデリングによりこの研究を精査することにより,局部の電子構造について得られる情報を幾何学的形状に置き換えることができ,また特に,溶解したシステムと溶媒間の電荷移動を条件づけることができる。幾つかのケースでは,X線吸収研究をX線放射または発光分光法と結びつけて,プローブした要素の電子の占有および非占有状態の全貌が得られる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 溶媒和 ,  *X線吸収スペクトル ,  *アルコール ,  *水 ,  *軟X線 ,  *モデリング ,  溶解 ,  *電子構造 ,  *溶質

分類 (2件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  液体構造一般  (BK02010E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 軟X線 ,  分光法 ,  イオン ,  分子 ,  溶媒和