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J-GLOBAL ID:201002257789600647   整理番号:10A0831660

酸素イオン流束およびアルゴンイオン流束とPET表面の相互作用のin-situXPSおよびex-situFTIRによる解析

Characterization of oxygen and argon ion flux interaction with PET surfaces by in-situ XPS and ex-situ FTIR
著者 (2件):
資料名:
巻: 95  号:ページ: 1783-1788  発行年: 2010年09月 
JST資料番号: E0404B  ISSN: 0141-3910  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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ポリ(エチレンテレフタレート)(PET)薄膜の表面化学組成に対する,低エネルギー(2.5,0.2keV)の反応性酸素イオンおよびアルゴンイオン衝突の効果を調べた。PETフィルムは生体医療産業や電子産業のための材料として高い可能性を有する。イオン源は加速電圧をセットできるECRイオン銃である。PETフィルムを様々な工程時間イオン衝突によりスパッターし,改変したフィルムをin-situX-線光電子分光(XPS)およびex-situFourier変換赤外分光(FTIR)により調べた。表面層の化学組成のかなりの変化が,XPSにより定量的に調べられた。イオン衝突はPETフィルム表面層の分子鎖の結合を切断する。アルゴンイオン流束を用いた時には,PET表面からの酸素原子の選択的スパッタが観測された。0.2keVおよび2.5keVのアルゴンイオンは,O/C比を0.37から0.25,0.04にそれぞれ低下させた。この現象が96原子%までの炭素富化表面層の生成の原因であり,エステル結合の酸素原子が最初にはずれる。2.5keV酸素イオン衝突は,アルゴンイオン衝突と同様の効果を有した;O/C比が減少した。エステル結合が最初に切断された。しかし,0.2keV酸素イオン流束は酸素富化表面を形成した;O/C比は0.37から0.46に上昇した。表面伝導度の変化を,C1s結合エネルギーシフトにより調べた。フィルム表面のC-C結合の炭素原子濃度と良い一致が認められた。FTIR解析は化学組成の変化を明らかにしたが,表面変化との明白な相関はなかった。イオン衝突中のPETフィルムを照射するイオン源からのフォトンがおそらくFTIRスペクトルの観測された変化を引き起こした。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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放射線高分子化学 

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