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J-GLOBAL ID：201002258110805411   整理番号：10A1125261

密度ゆらぎ及びゆらぎ誘起輸送測定用微分干渉測定

Differential interferometry for measurement of density fluctuations and fluctuation-induced transport (invited)

著者 (5件)： LIN L. (Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA) ,  DING W. X. (Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA) ,  BROWER D. L. (Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA) ,  BERGERSON W. F. (Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA) ,  YATES T. F. (Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 81  号： 10  ページ： 10D509  発行年： 2010年10月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 微分干渉測定は,空間オフセット(ビーム幅未満)及びヘテロダイン検出のために共通光学及び単一ミキサを用いた周波数差(1-2MHz)の2本の平行レーザビームを採用する。微分アプローチは,電子密度勾配,そのゆらぎ及び平衡密度分布の測定を可能にする。この新干渉測定技術は,周縁スキップエラーに無縁であり,厳しいプラズマ環境において特に有用である。ビーム空間オフセットの正確な較正は,回転誘電性くさび用いて達成され,このアプローチの広い応用を可能にする。微分干渉法は,ペレット注入の間にゆらぎ誘起輸送及び平衡密度プロファイル発展を直接測定するために,Madison対称トーラス逆磁場ピンチプラズマにおいて正常に使われた。更に,微分型と従来の干渉法を結合することによって,電子密度ゆらぎエネルギー方程式の線形及び非線形項を共に決定することができ,それによって密度ゆらぎの起源の定量的な調査を可能にする。微分干渉測定の概念,較正,及び適用について記述する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 電子密度 ,  *遠赤外線 ,  レーザ ,  干渉計 ,  *コンパクトトーラス ,  逆転磁場ピンチ ,  *プラズマ診断 ,  密度 ,  レーザビーム ,  磁場 ,  ゆらぎ
準シソーラス用語： 遠赤外レーザー ,  光干渉計 ,  密度ゆらぎ

分類 (2件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 密度ゆらぎ ,  ゆらぎ ,  誘起 ,  輸送 ,  微分 ,  干渉測定