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J-GLOBAL ID：201002258806345512   整理番号：10A0456103

リチウムビームプローブの開発と運転

Development and Operation of Lithium Beam Probe

著者 (4件)： KOJIMA A. (Japan Atomic Energy Agency) ,  KAMIYA K. (Japan Atomic Energy Agency) ,  FUJITA T. (Japan Atomic Energy Agency) ,  KUBO H. (Japan Atomic Energy Agency)
資料名： 日本原子力研究開発機構JAEA-Review
ページ： 136-139  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： L2149A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： JT-60Uで,低エネルギー・高輝度Li入射装置のリチウムビームプローブ(LiBP)系を開発し,HモードプラズマにおけるELM時の周辺密度分布と周辺電流分布の時間発展を測定するために据え付けた。LiBP系はLiビーム入射装置と検出器から成り,検出器光学系は光学レンズ,光弾性変調器,直線偏光器及び光ファイバアレイから構成されている。LiBPの運転間隔は中性化器の短い寿命によって決定され,βユークリプタイトのイオン源寿命は52.5Asecと見積もった。10keVエネルギーで密度を測定し,密度再構成において,2s-2p発光を考え,ビーム発光分布の全体形状を測定分布から見積もった。Lモードプラズマ(低密度)の場合,ビーム発光分布は密度分布とほとんど同一であった。Hモードプラズマ(高密度)において,観測エリア内でビームは完全に減衰した。10keVビームの侵入深さは,JT-60U Hモードプラズマの周辺密度分布を再構成するのに十分短かい。

シソーラス用語： トカマク ,  *プラズマ探針 ,  *リチウムビーム ,  光学系 ,  周辺プラズマ ,  プラズマ密度 ,  密度分布 ,  発光スペクトル ,  イオン源 ,  侵入度 ,  電流分布 ,  プラズマ電流 ,  中性粒子ビーム ,  ビーム入射 ,  プラズマ分光
準シソーラス用語： JT-60U

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (1件)： 開発