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J-GLOBAL ID:201002259014306214   整理番号:10A0996860

遮断円筒導波管法による誘電体基板の複素誘電率の面内分布測定

著者 (4件):
資料名:
巻: 2010  号: エレクトロニクスソサイエティ1  ページ: 70  発行年: 2010年08月31日 
JST資料番号: G0508A  ISSN: 1349-1369  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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遮断円筒導波管法により,誘電体試料の面内分布測定を行った。今回測定した試料には面内分布は存在せず,誘電正接が低いことから,ミリ波材料として有望といえる。(著者抄録)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (1件):
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R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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