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J-GLOBAL ID：201002259161147423   整理番号：10A1135479

オフアクシス自己干渉法を用いた定量的DIC顕微鏡

Quantitative DIC microscopy using an off-axis self-interference approach

著者 (8件)： FU Dan ,  OH Seungeun ,  CHOI Wonshik ,  YAMAUCHI Toyohiko ,  DORN August ,  YAQOOB Zahid ,  DASARI Ramachandra R. ,  FELD Michael S.
資料名： Optics Letters  (Optics Letters)
巻： 35  号： 14  ページ： 2370  発行年： 2010年07月15日 
JST資料番号： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 従来のNormarski微分干渉コントラスト顕微鏡(DIC)は,非汚染生体試料の画像形成に対して非常に強力な方法である。しかし,その主要な限界の1つに画像の非定量的な特性がある。この問題を克服するために,オフアクシス自己干渉を用いた定量的DIC顕微鏡法を開発した。デジタルホログラフィーアルゴリズムを用いて,位相勾配の空間積分を通して定量的な位相イメージを与える,直交する方向での定量的な位相勾配を得た。この方法は,実用的で簡易に任意の標準的な顕微鏡に,偏光光学についての厳格な要求をすることなしに移植することができる。光学的断層化は,拡大された照明開口数を介して行うことができた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 干渉測定 ,  *定量的分析 ,  *干渉顕微鏡 ,  生体試料 ,  像形成 ,  ホログラフィー ,  開口数 ,  トモグラフィー ,  画像診断
準シソーラス用語： 干渉法 ,  *微分干渉顕微鏡 ,  画像形成 ,  光学断層撮影

分類 (2件)： 光学情報処理  (BD03060T) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 自己 ,  干渉法 ,  定量 ,  DIC ,  顕微鏡