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J-GLOBAL ID：201002259411420902   整理番号：10A0399618

軌道放射光粉末回折測定における粒子統計の効果

Effect of Particle Statistics in Synchrotron Powder Diffractometry

著者 (3件)： 井田隆 (名古屋工大 セラミックス基盤工学研究セ) ,  後藤大士 (名古屋工大 セラミックス基盤工学研究セ) ,  日比野寿 (名古屋工大 セラミックス基盤工学研究セ)
資料名： セラミックス基盤工学研究センター年報  (CRL)
巻： 9  ページ： 1-7  発行年： 2010年03月31日 
JST資料番号： Z0964C  ISSN： 1347-1694  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 粉末回折データの解析では,回折条件を満たす結晶粒が相当数存在することを仮定する。結晶粒が粗く,回折計の角度分解能が高いほどこの条件を満たすことが難しくなる。最近,実験室型粉末回折計の試料回転角度をステップ走査して得た回折強度をデータ解析することにより,回折測定における粒子統計の効果を定量的に評価できることを示した。本稿では,粒子統計に関する理論を再構築し,軌道放射光粉末回折計を用いた高分解能測定から得たデータを解析しえる汎用性の高い理論的形式を導いた。1)粒子統計に関する理論:最も単純なケース,結晶粒径分布の効果,平板試料非対称反射の吸収の効果,任意の独立パラメータの影響,2)キャピラリ試料の粉末回折強度に関する粒子統計:理論の検証実験と結晶粒径分布評価の手順。

シソーラス用語： *X線回折 ,  *シンクロトロン放射 ,  軌道 ,  輝度 ,  結晶粒径 ,  粒度依存性 ,  分解能 ,  定量的分析 ,  高分解能 ,  粒度分布 ,  ビームライン ,  確率密度関数 ,  統計解析 ,  *粒度分析
準シソーラス用語： X線粉末回折 ,  粉末回折 ,  高輝度 ,  角度分解能

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 軌道 ,  放射光 ,  粉末回折 ,  統計