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J-GLOBAL ID：201002260105954578   整理番号：10A1124960

複雑な微粒子プラズマ中の電子-微粒子衝突に及ぼすイオン温度の影響

Ion temperature effect on the electron-dust collisions in complex dusty plasmas

著者 (2件)： KI Dae-han (Dep. of Applied Physics, Hanyang Univ., Ansan, Kyunggi-Do 426-791, KOR) ,  JUNG Young-dae (Dep. of Applied Physics, Hanyang Univ., Ansan, Kyunggi-Do 426-791, KOR)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 108  号： 8  ページ： 086101  発行年： 2010年10月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： イオン温度が電子-微粒子衝突過程に及ぼす影響を複雑な微粒子プラズマ中で調べた。二次アイコナール法を用いて,電子-微粒子衝突の散乱位相と断面積を衝突パラメータ,衝突エネルギー,イオン温度,密度,Debye長の関数として求めた。結果は微粒子プラズマのイオン温度低下と共にアイコナール散乱位相とアイコナール電子-微粒子衝突断面積が低下することを示した。また,イオン温度が電子-微粒子衝突過程に及ぼす影響は微粒子プラズマの電子密度の影響よりも有意であった。さらに,電子温度がイオン温度と同程度のとき,密度効果の方が有意であることを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *微粒子プラズマ ,  *電子衝突 ,  *イオン温度 ,  アイコナール近似 ,  断面積 ,  衝突パラメータ ,  Debye長 ,  位相 ,  電子密度
準シソーラス用語： 衝突断面積 ,  散乱位相

分類 (1件)： プラズマ一般  (BJ02010B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 微粒子プラズマ ,  電子 ,  粒子衝突 ,  イオン温度