WU Jin Chu について
National Inst. Standards and Technol., MD について
MARTIN Alvin F. について
National Inst. Standards and Technol., MD について
NACKER Raghu N. について
National Inst. Standards and Technol., MD について
HAGWOOD Charles R. について
National Inst. Standards and Technol., MD について
Proceedings of SPIE について
指紋認識 について
パターンマッチング について
指紋 について
光学画像 について
誤り率 について
ノンパラメトリック法 について
統計的決定 について
仮説検定 について
ブートストラップ について
画像認識 について
画像処理 について
ROC解析 について
ROC曲線 について
指紋画像 について
受け入れ について
等誤り率 について
有意差 について
パターン認識 について
ROC解析 について
有意性検定 について