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J-GLOBAL ID：201002261876070732   整理番号：10A0890123

画質とウェハレベル光学系

Image Quality and Wafer Level Optics

著者 (2件)： DAGAN Y. (Tessera, CA) ,  HUMPSTON G. (Tessera, CA)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 7723  ページ： 772315.1-772315.10  発行年： 2010年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 携帯電話用カメラモジュールの費用と大きさを大幅に削減するウェハレベル光学系の画質について,定量的,定性的に評価した。解像度,空間周波数応答(SFR),画像歪等の定量試験には,ISO12233標準解像度テストチャートを,色精度にはMacbeth ColorCheekerチャートを用いて評価した。最初に4台のVGAカメラモジュール(従来とウェハレベルのカメラモジュール)に対して視野角に対するMTFと収差の比較を行った。室内と屋外を撮像した時の画質についても比較を行った。次に,3メガピクセル(3MP)カメラモジュールに対しても同様の比較と,SFRに対する分析を行った。その結果,ウェハレベルカメラは従来と同等以上でしばしば優れた画質性能をもたらすことが明らかになった。

シソーラス用語： ウエハ【IC】 ,  *携帯電話 ,  *電子カメラ ,  *画質 ,  光学系 ,  空間周波数 ,  分解能 ,  画像歪 ,  光学伝達関数
準シソーラス用語： MTF【関数】 ,  *カメラ付き携帯電話 ,  *画質評価 ,  解像度

分類 (2件)： 光の像形成  (BD03050I) ,  撮像・録画装置  (ND12032E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 画質 ,  ウェハ ,  光学系