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文献
J-GLOBAL ID:201002262315701411   整理番号:10A0722360

試料水平型X線反射率計の高度化と液体表面の構造解析

Characterization of Liquid Surfaces Using the Advanced Surface-Horizontal X-ray Reflectometer at SPring-8
著者 (6件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 437-445 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: F0008A  ISSN: 0525-1931  CODEN: BNSKAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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X線反射率法は,界面深さ方向の電子密度分布をサブナノメータオ...
シソーラス用語:
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分類 (3件):
分類
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その他の物理分析  ,  界面化学一般  ,  蛋白質・ペプチド一般 
引用文献 (26件):
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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