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J-GLOBAL ID:201002262471111306   整理番号:10A1091000

トランスファ成形のゲート除去プロセス中のゲート欠け形成に及ぼす成形パラメータと充填材添加の影響

Effects of Molding Parameters and Addition of Fillers on Gate Chip Off Formation During the Degating Process in Transfer Molding
著者 (3件):
資料名:
巻: 447/448  ページ: 790-794  発行年: 2010年 
JST資料番号: D0744C  ISSN: 1013-9826  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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電子部品梱包産業では,エポキシ樹脂封止材(EMC)高分子マトリックスを,必要な粗さと硬度を得るために,融合シリカ(SiO2)で充填する。トランスファ成形のゲート除去プロセス中に起こるゲート欠けは,包装機能破損の原因となる欠陥の1つである。トランスファ成形パラメータと平均粒径20~25μmの標準融合SiO2充填材と平均粒径16~18μmの微細充填材がエポキシ樹脂封止材のゲート欠けに及ぼす影響を,数値シミュレーションと実験で調べた。硬化時間,トランスファ圧力と型温度が,型充填時間,充填終わり圧力と壁の剪断応力に及ぼす影響を,回帰モデルと分散分析を用いた実験計画法で調べた。実験結果は,トランスファ成形パラメータがゲート欠け形成にそれほど影響しないことを示した。数値シミュレーション結果は,微細充填材封止樹脂が,標準充填材封止樹脂より,低い充填終わり圧力と壁の剪断応力を生じることを明らかにした。これは,標準充填材封止樹脂より,高いゲート強度を微細充填材封止樹脂に与える。更に,標準充填材封止樹脂より滑らかな表面のため,微細充填材封止樹脂の摩擦剪断力が減少し,ゲート欠け形成の可能性の減少につながった。
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分類 (2件):
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固体デバイス材料  ,  エポキシ樹脂 
タイトルに関連する用語 (5件):
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