文献

J-GLOBAL ID：201002262548089449   整理番号：10A0254278

ナノマニピュレータと原子間力顕微鏡片持梁付走査電子顕微鏡を用いたナノファイバの機械的キャラクタリゼーション

Mechanical characterization of nanofibers using a nanomanipulator and atomic force microscope cantilever in a scanning electron microscope

著者 (4件)： HWANG Kenny Yoonki (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Seoul National Univ., 599 Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 151-742, The Republic ...) ,  KIM Sung-dae (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Seoul National Univ., 599 Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 151-742, The Republic ...) ,  KIM Young-woon (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Seoul National Univ., 599 Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 151-742, The Republic ...) ,  YU Woong-ryeol (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Seoul National Univ., 599 Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 151-742, The Republic ...)
資料名： Polymer Testing  (Polymer Testing)
巻： 29  号： 3  ページ： 375-380  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： C0752B  ISSN： 0142-9418  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノファイバ強化ポリマコンポジット等の構造材料におけるナノファイバの用途開発にはポリマナノファイバの機械的キャラクタリゼーションが必須である。走査電子顕微鏡(SEM)にナノマニピュレータと原子間力顕微鏡(AFM)片持梁を付設した「引掛け法」を開発した。先ず基板の溝上にエレクトロスピニングした1本のナノファイバを垂らした。次いで,AFM片持梁でナノファイバの中点を引掛けた。AFM片持梁をナノファイバと直交方向へ動かし,ナノファイバが切断するまで延伸した。引掛けと延伸プロセスはナノマニピュレータで制御した。本法の特徴は構造及び荷重機構が簡単で,ナノファイバの両端を強く掴む必要が無い。本法で種々の径を有するナノファイバを試験したところ,径が細くなるほど強度が増加した。従って,コンポジットのナノ補強材としては細いナノファイバほど適していることが分かった。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *片持梁 ,  *フック ,  溝 ,  *計測器 ,  *機械的性質 ,  *走査電子顕微鏡 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *エレクトロスピニング ,  *ナノファイバ ,  繊維強化プラスチック ,  構造材料 ,  ナイロン6 ,  電子照射 ,  切断 ,  力の定数 ,  応力歪曲線 ,  結晶度 ,  分子配向 ,  補強材料 ,  引張強さ
準シソーラス用語： *ナノマニピュレータ ,  導電性接着剤

分類 (4件)： ゴム・プラスチック材料  (HC04030W) ,  機械的性質  (YH02022L) ,  ポリアミド  (YH07080A) ,  力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器  (AD05050V)

タイトルに関連する用語 (6件)： ナノマニピュレータ ,  原子間力顕微鏡 ,  片持梁 ,  走査電子顕微鏡 ,  ナノファイバ ,  キャラクタリゼーション