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J-GLOBAL ID：201002263287907609   整理番号：10A0014335

質量分析装置のためのイオン化法 次世代を担う新たなイオン化法

著者 (1件)： 平岡賢三 (山梨大 クリーンエネルギー研究セ)
資料名： ぶんせき
号： 12  ページ： 656-662  発行年： 2009年12月05日 
JST資料番号： S0128B  ISSN： 0386-2178  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 気体,液体,固体試料を対象としたイオン化法として,(1)電子イオン化法,(2)化学イオン化法,(3)ペニングイオン化,(4)電界イオン化と電界脱離イオン化,(5)エレクトロスプレイ,ナノエレクトロスプレイ,そして探針エレクトロスプレイ,(6)MALDIとSALDI(7)SIMS,クラスターSIMS,そして帯電水滴衝撃について,それぞれの原理とイオン化反応について解説した。

シソーラス用語： *質量分析計 ,  気体 ,  液体 ,  固体 ,  Penningイオン化 ,  脱着 ,  プローブ ,  MALDI-MS ,  レーザ脱離質量分析 ,  二次イオン質量分析 ,  エレクトロスプレイイオン化質量分析 ,  化学イオン化質量分析 ,  電界脱離質量分析 ,  クラスタ ,  荷電粒子 ,  水滴 ,  *イオン化 ,  SALDI-MS

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (3件)： 質量分析装置 ,  イオン化 ,  次世代