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J-GLOBAL ID：201002263392522232   整理番号：10A1533252

量子ビームを用いる材料中の残留応力や格子ひずみの評価 放射光を用いた応力・ひずみ分布測定の現状

著者 (2件)： 菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構) ,  桐山幸治 (日本原子力研究開発機構)
資料名： 金属  (Materials Science & Technology)
巻： 80  号： 12  ページ： 996-1002  発行年： 2010年12月01日 
JST資料番号： F0157A  ISSN： 0368-6337  CODEN： KNZKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 放射線を用いた残留応力測定は非破壊検査として重用されているが,その中でも際だった特徴を有する放射光を用いた測定技術について解説した。放射光は,通常のX線回折に用いられるものと較べて,高強度,高輝度,高指向性およびエネルギー可変の特徴を有している。初めに,測定原理について述べ,通常のX線回折で利用されている2θ-sin²ψ法と放射光特有の高い透過力を利用したひずみスキャニング法について示した。また,回折プロファイルに着目した解析法についても簡単に示した。後段においては,放射光による測定事例として,表面改質ピーニング,溶接継手,亀裂,その場測定および塑性変形による微視的残留応力について示した。

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  残留応力 ,  *歪測定
準シソーラス用語： *シンクロトロン放射光

分類 (2件)： 金属材料  (HC02020X) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (8件)： 量子ビーム ,  残留応力 ,  格子ひずみ ,  評価 ,  放射光 ,  応力 ,  ひずみ分布 ,  現状