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J-GLOBAL ID：201002264265452272   整理番号：10A0561029

再現性のある表面増強Raman分光法基板およびチップ増強Raman分光法チップの調製法としてのシリコンへの銀の無電解析出

Electroless Deposition of Silver Onto Silicon as a Method of Preparation of Reproducible Surface-Enhanced Raman Spectroscopy Substrates and Tip-Enhanced Raman Spectroscopy Tips

著者 (2件)： BREJNA Przemyslaw R. (Univ. Idaho, Idaho) ,  GRIFFITHS Peter R. (Univ. Idaho, Idaho)
資料名： Applied Spectroscopy  (Applied Spectroscopy)
巻： 64  号： 5  ページ： 493-499  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： A0429A  ISSN： 0003-7028  CODEN： APSPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面増強Raman分光法(SERS)に用いるシリコン基板の新規で再現性のある調製法として,銀ナノ粒子の無電解析出法を提案した。本法はシリコンディスクを10mM AgNO₃溶液に入れ,0.24%HFを添加してAgナノ粒子を析出させるもので,調製したAg被覆ディスクを水-メタノール中で熟成することによって繰り返し性が向上した。SEMを用いた表面観察によれば,熟成によって小さいAgナノ粒子の消失が認められた。本法によって調製した基板の再現性は8.2%(RSD)であった。本研究のより重要な目的はAgナノ粒子で被覆したシリコンの原子間力顕微鏡(AFM)カンチレバーへの応用性を調べることである。カンチレバーチップの調製には,シリコンをHF蒸気に曝して,エッチングしたのち,AgNO₃溶液で処理した方が良い性能が得られた。

シソーラス用語： *表面増強Raman分光法 ,  ケイ素 ,  *無電解めっき ,  ナノ粒子 ,  再現性 ,  走査電子顕微鏡 ,  Ostwald成長 ,  フッ化水素 ,  硝酸銀 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *片持梁 ,  ナノ構造 ,  銀めっき ,  銀ナノ粒子 ,  シリコンウエハ ,  結晶粒粗大化 ,  改変
準シソーラス用語： シリコン基板

分類 (3件)： 分析機器  (CC02020S) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般  (BM08061U)

タイトルに関連する用語 (7件)： 再現性 ,  表面増強Raman分光法 ,  チップ増強Raman分光法 ,  調製法 ,  シリコン ,  銀 ,  無電解析出