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J-GLOBAL ID:201002264380811154   整理番号:10A1027425

土壌中の痕跡量セレンの定量に対する全反射X線分光法(TXRF)の分析的可能性

Analytical Possibilities of Total Reflection X-ray Spectrometry (TXRF) for Trace Selenium Determination in Soils
著者 (8件):
資料名:
巻: 82  号: 18  ページ: 7744-7751  発行年: 2010年09月15日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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土壌中のセレンの定量はセレンの生物地球化学的循環における役割,栄養素としての必要性と毒性の点で,地球化学において重要な案件であるが,土壌試料中のセレンは低濃度であり,またマトリックスの複雑さから定量が困難とされている。本研究では全セレンを定量する目的で,種々の分散剤を使用した懸濁液の全反射X線分光法による直接分析と温浸土壌試料分析法を比較することで,全反射X線分光法の可能性を調べた。粉砕した土壌試料を用いた固体懸濁物質の直接分析ではセレンの検出限界は1mg/kgであった。高濃度鉄による土壌抽出物の全反射X線分光分析における問題を回避することができるように,エーテルによる液-液抽出の適用と装置へのクロム吸着剤の導入を実施する一方,温浸土壌の全反射X線分光分析前の分散液-液ミクロ抽出手法も開発した。この分析法を用いたときの検出限界(0.05mg/kg Se)は,黒鉛炉原子吸光分析,ICP-MSなどの一般的な分光技法によって得られるものに匹敵,またはそれ以下であった。土壌ダスト,火山灰など質量に制限のある試料へもこの方法を適用できるものとみられる。
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分類 (3件):
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その他の物理分析  ,  無機化合物一般及び元素  ,  土壌化学 

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