文献

J-GLOBAL ID：201002264452326434   整理番号：10A0188423

偏光位相シフトJaminシヤリング干渉計

Polarization phase-shifting Jamin shearing interferometer

著者 (5件)： WANG Lijuan (Shanghai Inst. of Optics and Fine Mechanics, Chinese Acad. of Sciences, P.O. Box 800-211, Shanghai 201800, CHN) ,  LIU Liren (Shanghai Inst. of Optics and Fine Mechanics, Chinese Acad. of Sciences, P.O. Box 800-211, Shanghai 201800, CHN) ,  LUAN Zhu (Shanghai Inst. of Optics and Fine Mechanics, Chinese Acad. of Sciences, P.O. Box 800-211, Shanghai 201800, CHN) ,  SUN Jianfeng (Shanghai Inst. of Optics and Fine Mechanics, Chinese Acad. of Sciences, P.O. Box 800-211, Shanghai 201800, CHN) ,  ZHOU Yu (Shanghai Inst. of Optics and Fine Mechanics, Chinese Acad. of Sciences, P.O. Box 800-211, Shanghai 201800, CHN)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 121  号： 4  ページ： 358-361  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Jaminシヤリング干渉計は,特に低コヒーレント光も波面測定において極めて有用である。この干渉計に基づいて,偏光位相シフトJaminシヤリング干渉計を提案し,その性能を改善した。この干渉計は二つの干渉ビームが直線偏光を持ち,偏光移相器を応用して位相シフトを実現する。異なる型の干渉計配置を提示した。位相シフト干渉図形により干渉計の精度を改善できた。この干渉計は等光路システムとして維持され,そのシヤリング量は簡単な構造と容易な操作により可変状態が維持される。実験では検光子の回転を用いて位相シフト干渉図形を求めた。この干渉計の有用性を立証した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *シヤリング干渉計 ,  *位相シフト ,  *部分コヒーレント光 ,  *波面再生 ,  *直線偏光 ,  移相器 ,  干渉縞 ,  検光子 ,  ビームスプリッタ
準シソーラス用語： 偏光ビームスプリッタ

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 偏光 ,  位相シフト ,  シヤリング干渉計