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J-GLOBAL ID:201002264618637921   整理番号:10A0286865

FIEを用いた二次元方形亀裂からの後方散乱

Backscattering From a Two Dimensional Rectangular Crack Using FIE
著者 (5件):
資料名:
巻: 58  号:ページ: 552-564  発行年: 2010年02月 
JST資料番号: C0218A  ISSN: 0018-926X  CODEN: IETPAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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亀裂は化学および発電プラントの圧力容器あるいはパイピングなどの機械および構造における多くの欠陥の原因となっている。金属における表面亀裂の検出法として,ポテンシャルドロップ法,渦電流法,AC場測定法,マイクロ波法などいくつかの電磁気法が提案されている。本論文では,金属表面における二次元亀裂のHおよびE分極後方散乱識別法につき報告した。提案のDIES(直接積分方程式)解法の利点は,最小の解析事前作業ですむ求積法公式による特異積分方程式の数値計算法ということである。対数および高度特異カーネルによる支配FIE(電界積分方程式)をまず離散化し,Chebyshev多項式に基づく選点法で解いた。方程式の線形システムへの誘導のため,本積分をアドホック求積法規則で近似した。提案の手法は非常に効率的であり,計算時間は全体的に数値非可逆FEMの場合とよく一致した。
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分類 (3件):
分類
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金属材料  ,  電波伝搬一般  ,  数値計算 
タイトルに関連する用語 (3件):
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