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J-GLOBAL ID:201002265042653671   整理番号:10A0597417

反射型半導体光増幅器を用いたキャビティーリングダウン装置の特性

Cavity Ring-Down Characteristic Using Reflective Semiconductor Optical Amplifier
著者 (3件):
資料名:
巻: 130  号:ページ: 253-254 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: L3098A  ISSN: 1341-8939  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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物質が特定の波長の光を吸収する性質を利用した吸収分光法は,蛍光測定法と比べて感度が低い。本研究では,光増幅器として半導体光増幅器(SOA)および反射型半導体光増幅器(RSOA)を用いキャビティリングダウン分光法(CRDS)装置を構成し,その性能を比較検討した。RSOAを用いたCRDSはパルス列が指数関数的に減少することと,ベースラインを抑制できることを確認した。これらの結果にもとづき,RSOAを用いてCDRSを構成すれば高性能化が図れることを示した。
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分類 (1件):
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赤外・遠赤外領域の分光法と分光計 
引用文献 (6件):
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