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J-GLOBAL ID：201002267245450337   整理番号：10A0490591

中性子,X線および中性子スピンエコー反射測定におけるコヒーレンス法

Coherence approach in neutron, x-ray, and neutron spin-echo reflectometry

著者 (8件)： DE HAAN Victor O. (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  PLOMP Jeroen (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  REKVELDT M. Theo (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  VAN WELL Ad A. (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  DALGLIESH Robert M. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  LANGRIDGE Sean (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  BOETTGER Amarante J. (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  HENDRIKX Ruud (Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 81  号： 9  ページ： 094112.1-094112.15  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *コヒーレンス ,  *反射率計 ,  *X線 ,  Born近似 ,  歪波Born近似 ,  *スピンエコー ,  *中性子散乱

分類 (2件)： 中性子回折法  (BK01060A) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 中性子 ,  X線 ,  中性子スピンエコー ,  コヒーレンス