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J-GLOBAL ID：201002268574963830   整理番号：10A0777975

3D表面形状測定のための臨界角法

Critical angle method for 3D surface profile measurement

著者 (4件)： TAN Chen-Tai (National Formosa Univ., Yunlin, TWN) ,  LIN Zhen-Chin (National Formosa Univ., Yunlin, TWN) ,  CHAN Yuan-Sheng (National Formosa Univ., Yunlin, TWN) ,  CHIU Ming-Hung (National Formosa Univ., Yunlin, TWN)
資料名： Technical Digest of International Conference on Optics-photonics Design & Fabrication  (Technical Digest of International Conference on Optics-photonics Design & Fabrication)
巻： 7th  ページ： 343-344  発行年： 2010年 
JST資料番号： L4372A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *形状測定 ,  三次元測定 ,  立体画像 ,  臨界 ,  光反射 ,  全反射 ,  反射率 ,  *光学的測定
準シソーラス用語： 三次元形状測定 ,  臨界角

分類 (2件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (3件)： 3D ,  表面形状測定 ,  臨界角