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J-GLOBAL ID：201002268768913671   整理番号：10A0421475

弱い高分子電解質ブラシの塩濃度に依存する不安定性および横方向のナノスケール不均一性の起源について: 勾配ブラシ実験およびFlory型理論解析

On the Origins of the Salt-Concentration-Dependent Instability and Lateral Nanoscale Heterogeneities of Weak Polyelectrolyte Brushes: Gradient Brush Experiment and Flory-Type Theoretical Analysis

著者 (4件)： HUR Jaehyun (Purdue Univ., Indiana) ,  WITTE Kevin N. (Purdue Univ., Indiana) ,  SUN Wei (Purdue Univ., Indiana) ,  WON You-Yeon (Purdue Univ., Indiana)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 26  号： 3  ページ： 2021-2034  発行年： 2010年02月02日 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実験および理論によってさまざまな添加塩濃度および鎖のグラフト密度における弱い高分子電解質ブラシの横方向の構造を研究した。そのために,新規な「圧力下におけるLangmuir-Blodgett付着」(LB/C)法を用いて,グラフト密度勾配をもつモデルポリ(アクリル酸2-(ジメチルアミノ)エチル)(PDMAEMA)ブラシを開発した。ブラシの液体AFM画像から,低い塩濃度ではブラシ構造は強い横方向の不均一性を示すが,中間的塩濃度では不均一性は減少して均一領域と共存し,高い塩濃度では全表面が均一となることがわかった。このブラシ系における熱力学的挙動を説明するために,各領域に対し自由エネルギーに基づくFlory型の考察を行なった。鎖の崩壊が対イオンの浸透圧を減少させるとともに骨格に沿った電荷を減少させイオンを放出するという「浸透不安定性」により均一なブラシが不安定化するという機構が横方向不均一性発生の原因と考えた。

シソーラス用語： *高分子電解質 ,  *高分子ブラシ ,  *原子間力顕微鏡 ,  *不均一性 ,  浸透圧 ,  Langmuir-Blodgett膜 ,  *不安定性
準シソーラス用語： *グラフト率 ,  *塩濃度

分類 (2件)： 高分子溶液の物理的性質  (CG02013S) ,  その他の物質の化学熱力学(混合系)  (CB02034Q)

物質索引 (1件)： アクリル酸2-(ジメチルアミノ)エチル

タイトルに関連する用語 (11件)： 高分子電解質 ,  ブラシ ,  塩濃度 ,  横方向 ,  ナノスケール ,  不均一性 ,  起源 ,  勾配 ,  実験 ,  型理論 ,  解析