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J-GLOBAL ID：201002268792922428   整理番号：10A0727704

単一光子アバランシュダイオードのRTSノイズ特性

RTS Noise Characterization in Single-Photon Avalanche Diodes

著者 (6件)： KARAMI Mohammad Azim (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  CARRARA Lucio (ESPROS Photonics, Baar, CHE) ,  NICLASS Cristiano (Ecole Polytechnic Federale de Laussane, Lausanne, CHE) ,  FISHBURN Matthew (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  CHARBON Edoardo (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  CHARBON Edoardo (Ecole Polytechnic Federale de Laussane, Lausanne, CHE)
資料名： IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)
巻： 31  号： 7  ページ： 692-694  発行年： 2010年07月 
JST資料番号： B0344B  ISSN： 0741-3106  CODEN： EDLEDZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ダーク・カウント・レート(DCR)の不安定性を理解してモデル化すれば,標準CMOSプロセスの欠陥を指摘して解析する強力なツールになる。それは設計によって欠陥の影響を克服する新しい方法を示すことになる。本稿では,単一光子アバランシュダイオード(SPAD)の異なる状態間のDCRの時間的な揺らぎを測定する。その揺らぎの統計がランダム電信信号(RTS)の振る舞いを表わすことになるという仮説を置く。RTSの振る舞いを,0.8μmCMOS技術で作製したSPADと0.35μmCMOS技術で作製し11MeVの陽子源で照射したSPADで観察した。RTSの大きさについて,温度と電圧依存性を測定し理論とよく一致したことから,上の仮説が証明される。

シソーラス用語： アバランシェダイオード ,  *雑音特性 ,  電子技術 ,  *アバランシェフォトダイオード
準シソーラス用語： CMOS技術 ,  *単一光子アバランシェダイオード

分類 (1件)： 光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (2件)： 単一光子 ,  ノイズ特性