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J-GLOBAL ID：201002268840302992   整理番号：10A0122820

狭いチャネル内において高イオン強度下のシリカ表面の電気化学的帯電

Electrochemical charge of silica surfaces at high ionic strength in narrow channels

著者 (4件)： WANG Moran (Computational Earth Sciences Group (EES-16), Earth and Environmental Sciences Div., Los Alamos National Lab., Los ...) ,  WANG Moran (Center of Nonlinear Studies, Theoretical Div., Los Alamos National Lab., Los Alamos, NM 87545, USA) ,  REVIL Andre (Dep. of Geophysics, Colorado School of Mines, Golden, CO 80401, USA) ,  REVIL Andre (CNRS-UMR 5559-LGIT, Univ. de Savoie, Equipe volcan, 73376 Le-Bourget-du-Lac, FRA)
資料名： Journal of Colloid and Interface Science  (Journal of Colloid and Interface Science)
巻： 343  号： 1  ページ： 381-386  発行年： 2010年03月01日 
JST資料番号： C0279A  ISSN： 0021-9797  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 狭いチャネル内において高イオン強度溶液と接触したシリカ表面の電気化学的帯電を計算する理論的枠組みを提示した。分析結果では,塩分濃度が1mMを越える時,全表面帯電への吸着金属カチオンの寄与は無視できないことを示した。高イオン強度に対し電気三重層モデルが他モデルよりかなり良いと分った。狭いチャネルにおいて二重層により生じる電荷調節は,表面電荷密度を減らすが,シリカ表面ゼータ電位を増大させる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 表面電荷 ,  *帯電 ,  *塩分 ,  イオン強度 ,  *特性 ,  金属イオン ,  カチオン ,  吸着 ,  計算 ,  電気二重層 ,  ζ電位 ,  電荷分布 ,  密度 ,  *マイクロリアクタ ,  チャネル ,  流体 ,  *マイクロチャネル ,  *二酸化ケイ素
準シソーラス用語： *シリカ ,  ナノチャネル ,  ナノ流体 ,  マイクロ流体 ,  *塩分濃度 ,  計算法 ,  電荷密度 ,  *電気化学的性質

分類 (3件)： 合成鉱物  (CD01040K) ,  電気化学一般  (CB07010N) ,  界面化学一般  (CB12010J)

タイトルに関連する用語 (5件)： チャネル ,  イオン強度 ,  シリカ ,  電気化学 ,  帯電