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J-GLOBAL ID：201002270021052515   整理番号：10A0144192

MgOに担持されたサイト孤立単核イリジウム触媒:分光法及び収差補正走査透過型電子顕微鏡による評価

A site-isolated mononuclear iridium complex catalyst supported on MgO: Characterization by spectroscopy and aberration-corrected scanning transmission electron microscopy

著者 (5件)： UZUN Alper (Dep. of Chemical Engineering and Materials Sci., Univ. of California, Davis, One Shields Avenue, Davis, CA 95616, USA) ,  ORTALAN Volkan (Dep. of Chemical Engineering and Materials Sci., Univ. of California, Davis, One Shields Avenue, Davis, CA 95616, USA) ,  BROWNING Nigel D. (Dep. of Chemical Engineering and Materials Sci., Univ. of California, Davis, One Shields Avenue, Davis, CA 95616, USA) ,  BROWNING Nigel D. (Lawrence Livermore National Lab., Livermore, CA 94550, USA) ,  GATES Bruce C. (Dep. of Chemical Engineering and Materials Sci., Univ. of California, Davis, One Shields Avenue, Davis, CA 95616, USA)
資料名： Journal of Catalysis  (Journal of Catalysis)
巻： 269  号： 2  ページ： 318-328  発行年： 2010年02月05日 
JST資料番号： H0480A  ISSN： 0021-9517  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エテン配位子を有する担持単核イリジウム錯体を,高度脱ヒドロキシル化MgOとIr(C₂H₄)₂(acac)(acavはCH₃COCHCH₃)の反応により調製した。X線吸収広域微細構造(EXAFS)及び赤外(IR)分光法による担持種の評価は,得られた担持有機金属種がIr(C₂H₄)₂であることを示した,これはIr(C₂H₄)₂(acac)からのacac配位子の解離及びMgO表面へIr(C₂H₄)₂種の結合により形成される。これら単核錯体のサイト孤立の直接の証拠は,収差補正走査透過型電子顕微鏡(STEM)により得られた;画像は,なんらクラスタの無いイリジウム錯体の存在を示した。イリジウム錯体をCOに関して精査した場合,得られたIRスペクトルは,MgO表面でのIr(CO)₂錯体の生成を示した。ν_coバンドの幅は,MgO表面の不均一性に一致して,金属-担体結合における十分な変化を示した;STEM画像は,この不均一性を評価するには十分でなかった。担持イリジウム錯体は,流動反応器で室温,大気圧でのエテンの水素化を触媒した,EXAFSスペクトルは単核イリジウム種が不変であることを示した。使用触媒のSTEM画像は,イリジウム錯体の殆ど全部が不変であることを確認した,しかしこの方法は十分高感度で,担体上のイリジウムの小さい程度の凝集を検出できるものであった。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *担持触媒 ,  収差補正 ,  配位子 ,  不均一性 ,  水素化 ,  *酸化マグネシウム ,  *イリジウム化合物 ,  *遷移金属触媒 ,  電子顕微鏡 ,  画像 ,  アルケン ,  脱ヒドロキシ
準シソーラス用語： 脱ヒドロキシル ,  単核球 ,  単核錯体 ,  *イリジウム触媒

分類 (1件)： 貴金属触媒  (CB06122I)

物質索引 (1件)： エテン

タイトルに関連する用語 (8件)： MgO ,  担持 ,  核 ,  イリジウム触媒 ,  分光法 ,  収差補正 ,  走査透過型電子顕微鏡 ,  評価