文献

J-GLOBAL ID：201002270100000644   整理番号：10A1161028

非対称セルを持つTCAMsのランダム欠陥とプロセス変化起因比較故障のテスティング

Testing Random Defect and Process Variation Induced Comparison Faults of TCAMs with Asymmetric Cells

著者 (3件)： LI Jin-Fu (National Central Univ., Jhongli, TWN) ,  HUANG Yu-Jen (National Central Univ., Jhongli, TWN) ,  HU Yong-Jyun (National Central Univ., Jhongli, TWN)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 29  号： 11  ページ： 1842-1847  発行年： 2010年11月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3値連想メモリ(TCAMs)はパケット通信やアドレス分類などのネットワーキングアプリケーションに広く使われている。このような高品質サービスには高速で並列の比較(検索)機能が一般に要求される。本稿では,Hit出力とPAE(Priority Address Encoder)出力を測定して非対称セルを持つTCAMの比較故障を検出する試験法を提案した。この試験ではTCAMの検索時間故障(searchi time failure)も検出できる。さらに,TCAMの比較回路中のプロセス変化により生じた整合故障(match failure)をカバーする試験方法も提案した。

シソーラス用語： *連想メモリ ,  *故障検出 ,  パケット交換 ,  半導体プロセス ,  符号器 ,  信号検出器 ,  *回路試験 ,  組織化
準シソーラス用語： ネットワーキング

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非対称 ,  セル ,  欠陥 ,  プロセス ,  起因 ,  故障