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J-GLOBAL ID:201002270389376060   整理番号:10A0450666

パルス励起による光電子飛行時間分析の時間及びエネルギー分解光電子放出電子顕微鏡法画像化

Time- and energy resolved photoemission electron microscopy-imaging of photoelectron time-of-flight analysis by means of pulsed excitations
著者 (6件):
資料名:
巻: 178-179  ページ: 317-330  発行年: 2010年05月 
JST資料番号: D0266C  ISSN: 0368-2048  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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この研究は,過去数年間の時間及びエネルギー分解した光電子放出電子顕微鏡法における発展を,明らかにする。我々は技術の基本原理を述べ,種々の応用を説明する。実時間分光画像化のための,エネルギー及び時間フィルタリング光電子放出電子顕微鏡法(PEEM)は実現できる。阻止場または半球エネルギー分析器によるか,または遅延線検出器を用いる飛行時間光学を用いることによって。後者の方法は,全てのランダムに入ってくる粒子を,位置によってだけでなく時間によっても測定するから,データ喪失が全く無い利点を持つ。これは,空間電荷過程がレーザパルスごとの光電子放出電子の最大数を劇的に制限する,フェムト秒及びアト秒時間規模におけるポンプ-プローブ実験にとって,特に興味深い。この研究は,特に新しい遅延線検出器を用いる飛行時間分析に集中する。遅延線検出器を用いる時間及びエネルギー分解するPEEM測定器は,真の計数の基準で四次元画像化(x,y,Δt,E<sub>Kin</sub>)を可能にする。これは,表面における動的現象の実時間観測から,fs飛行時間分光顕微鏡法までと収差補正さえの,広い応用の範囲を可能にする。今までにこれらの飛行時間分析測定器は,絶対108ps及び相対13.5psの固有時間分解能を達成する。ランダム検出領域において毎秒400万事象以上の非常に高い永続測定速度を,標準のUSB2.0インタフェイスを用いて実現した。この性能によって時間分解PEEM技法は,任意の現代計算機上で,空間分解(<25nm)した時間的なスライス画像ライフの発展を,表示することを可能にする。その方法は,表面における変動する電気的,磁気的及び光学的近接場と,動的適応光電子光学における大きい予想の動力学研究を可能にする。磁区壁の運動の様なps時間スケールにおける動的過程について,遅延線検出器の時間分解能は,実時間実験にも直接使われることを可能にさえする。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
分類
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顕微鏡法  ,  電子分光法 

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