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J-GLOBAL ID：201002270573637216   整理番号：10A1619815

Na_xSi₁₃₆(0<x<24)クラスレートの局所構造と電子的性質のX線吸収分光による研究

X-ray absorption spectroscopy studies of local structure and electronic properties of Na_xSi₁₃₆ (0<x<24) clathrates

著者 (7件)： RITCHIE Andrew D. (Dalhousie Univ., Nova Scotia, CAN) ,  MACDONALD Mark A. (Dalhousie Univ., Nova Scotia, CAN) ,  ZHANG Peng (Dalhousie Univ., Nova Scotia, CAN) ,  WHITE Mary Anne (Dalhousie Univ., Nova Scotia, CAN) ,  BEEKMAN Matt (Univ. South Florida, Florida, USA) ,  GRYKO Jan (Jacksonville State Univ., Alabama, USA) ,  NOLAS George S. (Univ. South Florida, Florida, USA)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 82  号： 15  ページ： 155207.1-155207.9  発行年： 2010年10月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： ケイ化物 ,  *ナトリウム化合物 ,  *包接化合物 ,  EXAFS ,  XANES ,  *構造 ,  状態密度 ,  ナトリウム ,  電荷移動 ,  分子構造
準シソーラス用語： *局所構造 ,  組成依存性

分類 (2件)： 分子の立体配置・配座  (BH05022J) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (8件)： クラス ,  レート ,  局所構造 ,  電子 ,  性質 ,  X線吸収 ,  分光 ,  研究