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J-GLOBAL ID：201002270735668994   整理番号：10A0215748

低ヒステリシス形状記憶合金における位相適合性の透過型電子顕微鏡研究

Transmission electron microscopy study of phase compatibility in low hysteresis shape memory alloys

著者 (6件)： DELVILLE Remi (Univ. Antwerp, Antwerp, BEL) ,  KASINATHAN Sakthivel (Univ. Minnesota, Minnesota, USA) ,  ZHANG Zhiyong (Univ. Minnesota, Minnesota, USA) ,  VAN HUMBEECK Jan (Catholic Univ. Leuven, Heverlee, BEL) ,  JAMES Richard D. (Univ. Minnesota, Minnesota, USA) ,  SCHRYVERS Dominique (Univ. Antwerp, Antwerp, BEL)
資料名： Philosophical Magazine  (Philosophical Magazine)
巻： 90  号： 1/4  ページ： 177-195  発行年： 2010年01月07日 
JST資料番号： E0753C  ISSN： 1478-6435  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *形状記憶合金 ,  *マルテンサイト変態 ,  ヒステリシス ,  *透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  オーステナイト ,  マルテンサイト ,  *界面 ,  チタン合金 ,  ニッケル合金 ,  銅含有合金 ,  パラジウム含有合金 ,  格子整合
準シソーラス用語： 適合性

分類 (2件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N) ,  その他の金属組織学  (WB01040Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： ヒステリシス ,  形状記憶合金 ,  位相 ,  適合性 ,  透過型電子顕微鏡 ,  研究