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J-GLOBAL ID：201002271498042151   整理番号：10A0435875

気液界面での両親媒性物の未摂動Langmuir単一層からのX線反射率の干渉増強

Interferometric enhancement of x-ray reflectivity from unperturbed Langmuir monolayers of amphiphiles at the liquid-gas interface

著者 (8件)： KRISHNAN Venkata (Univ. Pennsylvania, Pennsylvania, USA) ,  STRZALKA Joseph (Univ. Pennsylvania, Pennsylvania, USA) ,  STRZALKA Joseph (Argonne National Lab., Illinois, USA) ,  LIU Jing (Univ. Pennsylvania, Pennsylvania, USA) ,  LIU Chian (Argonne National Lab., Illinois, USA) ,  KUZMENKO Ivan (Argonne National Lab., Illinois, USA) ,  GOG Thomas (Argonne National Lab., Illinois, USA) ,  BLASIE J. Kent (Univ. Pennsylvania, Pennsylvania, USA)
資料名： Physical Review. E. Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics  (Physical Review. E. Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics)
巻： 81  号： 2,Pt.1  ページ： 021604.1-021604.10  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： W0493A  ISSN： 1539-3755  CODEN： PLEEE8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 気液界面 ,  両親媒性 ,  摂動 ,  単一層 ,  X線反射率 ,  干渉 ,  増強