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J-GLOBAL ID：201002271818797016   整理番号：10A0796767

フラッシュメモリ記憶システムのためのプロセス意識のホット/コールドの同定方式

A Process-Aware Hot/Cold Identification Scheme for Flash Memory Storage Systems

著者 (3件)： JUNG Sanghyuk (Hanyang Univ., Seoul, KOR) ,  LEE Yangsup (Hanyang Univ., Seoul, KOR) ,  SONG Yong Ho (Hanyang Univ., Seoul, KOR)
資料名： IEEE Transactions on Consumer Electronics  (IEEE Transactions on Consumer Electronics)
巻： 56  号： 2  ページ： 339-347  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： C0219A  ISSN： 0098-3063  CODEN： ITCEDA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フラッシュメモリのホット/コールドの同定について検討した。フラッシュメモリに対する書き込み,消去の動作を低減するため,バッファー内に頻繁なアクセスデータを保持する方法について調べた。ホットとコールドのデータの間の更新の周波数に大きいギャップが存在する。ホットデータは近い将来にアクセスされるが,コールドデータは変化することが少ない。13Gbytesで127万の書き込み要求の場合について実験を行った。この同定方法は,書き込み回数を低減し,メモリの性能を向上できることがわかった。

シソーラス用語： *フラッシュメモリ ,  過程 ,  入出力特性 ,  周波数 ,  改良 ,  *バッファメモリ ,  アクセス制御
準シソーラス用語： プロセス ,  書込マージン ,  *性能向上 ,  アクセスコントロール

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (5件)： フラッシュメモリ ,  記憶システム ,  プロセス ,  意識 ,  同定