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J-GLOBAL ID：201002272239546334   整理番号：10A0617226

酸化物半導体中に組込まれたナノ粒子の大きさや性質を調べるための磁気的及び光学的手法

Using Magnetic and Optical Methods to Determine the Size and Characteristics on Nanoparticles Embedded in Oxide Semiconductors

著者 (8件)： GEHRING Gillian A. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  BLYTHE Harry J. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  FENG Qi (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  SCORE David S. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  MOKHTARI Abbas (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  ALSHAMMARI Marzook (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  AL QAHTANI Mohammed S. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  FOX A.Mark (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 46  号： 6  ページ： 1784-1786  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 遷移金属をドープした酸化物膜は磁性内包物を含んでいると考えられていることから,ナノフェーズ物質の量並びにその磁気特性を求めるための手法について述べた。常磁性試料の量も測定できる。さらに欠陥を検出する強力なツールとなる磁気光学的な手法についても述べた。紹介した手法を用いることによって独立したイオンやナノクラスタの磁性を確認することができ,またナノクラスタの存在を判定すると共にそれが材料中の唯一の磁化源であるか否かを判定することができる。

シソーラス用語： *化合物半導体 ,  ナノ粒子 ,  遷移金属 ,  ドーピング ,  酸化膜 ,  *磁気的性質 ,  *光学的測定
準シソーラス用語： ドープ処理 ,  *酸化物半導体 ,  酸化物膜 ,  磁気的測定 ,  *磁気特性 ,  *磁性ナノ粒子

分類 (1件)： 固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (6件)： 酸化物半導体 ,  粒子の大きさ ,  性質 ,  磁気 ,  光学 ,  手法