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J-GLOBAL ID:201002272569107914   整理番号:10A0851568

RF ICアプリケーションのためのシリコンMOSFETの正確な小信号モデリングと抽出

Accurate small signal modeling and extraction of silicon MOSFET for RF IC application
著者 (3件):
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巻: 54  号: 11  ページ: 1312-1318  発行年: 2010年11月 
JST資料番号: H0225A  ISSN: 0038-1101  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,簡単でスケーラブルなSi MOSFETの非準静電気(NQS)小信号等価回路(SSEC)モデルと,対応する直接抽出方法論について示す。基板損失,端子抵抗,およびインダクタンスの影響と共に,40GHzまでの高周波の下での寄生ゲートドレイン結合について説明するために,従来のSSECと比べて,平行ゲートドレイン分岐が追加された。新しい抽出方法論が開発され,それは,すべての外因性寄生成分をゼロバイアスとZ-パラメタから抽出し,内因性成分をオン状態のY-パラメタから抽出する。提案されたモデルと抽出方法論は,0.13μmのCMOS技術で作られたデバイスに対して0.1~40GHzまでシミュレートおよび測定されたS-パラメタの間に良い一致が見られることで検証された。抽出されたバイアス依存モデルは,大信号アプリケーションにおける非線形モデルを構成するのにも使用できる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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