EWERT Uwe について
BAM-Berlin, Berlin, DEU について
BAVENDIEK Klaus について
Yxlon International GmbH, Hamburg, DEU について
ROBBINS Jason について
Yxlon International, Inc., OH について
ZSCHERPEL Uwe について
BAM-Berlin, Berlin, DEU について
BUENO Cliff について
GE Global Res. Center, NY について
GORDON Trey について
Boeing Co., WA について
MISHRA Debasish について
John F. Welch Technol. Centre, Bangalore, IND について
Materials Evaluation について
ディジタル画像 について
放射線検出器 について
信号処理 について
放射線応用計測 について
画質 について
画像補正 について
比率 について
形状覚 について
視知覚 について
キャリブレーション について
画素 について
フィルム録画 について
代替案 について
SN比 について
可視度 について
アレイ回路 について
ピクセル検出器 について
アレイ信号処理 について
コントラスト感度 について
画像品質 について
鮮明度 について
搬送波対雑音比 について
品質向上 について
補正法 について
非破壊試験 について
図形・画像処理一般 について
デジタル について
検出器 について
アレイ について
工業 について
放射線利用 について
画像品質向上 について
原理 について