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J-GLOBAL ID：201002274625371584   整理番号：10A1001346

自己修復チップに対しReed-Solomon符号を利用するハードウェアオーバヘッドの小さい自己診断技法

A Low Hardware Overhead Self-Diagnosis Technique Using Reed-Solomon Codes for Self-Repairing Chips

著者 (2件)： TANG Xiangyu (Link_A_Media Devices, CA) ,  WANG Seongmoon (NEC Lab. America, NJ)
資料名： IEEE Transactions on Computers  (IEEE Transactions on Computers)
巻： 59  号： 10  ページ： 1309-1319  発行年： 2010年10月 
JST資料番号： C0233A  ISSN： 0018-9340  CODEN： ICTOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多種のメモリ製品に広く使用されているBISR(組込自己修復)を,ランダム論理用汎用ASICに実装することは遙かに困難である。本論文では,BISRに使用可能なチップ上の故障を発見しフィールド修復するための自己診断回路を提案した。診断対象回路は,故障が発見されれば予備回路で置換できる多数のFRU(フィールド修復可能ユニット)で構成する。自己診断回路はチップ上に実装するため,スキャン連鎖から得る応答を圧縮するが,空間および時間圧縮回路はReed-Solomon符号で実装する。すべてのFRUの応答は同時観測できるため,診断時間はBIST時間程度に短縮できる。またスキャンセルをグループ化し,個々のスキャンセルに記憶されたテスト応答を処理前に圧縮して,ハードウェアオーバヘッドをさらに低減した。実験では,この自己診断回路は1%以下のハードウェアオーバヘッドで実装できた。

シソーラス用語： *BIST ,  回復 ,  修理 ,  診断 ,  故障診断 ,  バウンダリスキャン ,  応答 ,  Reed-Solomon符号 ,  データ圧縮 ,  時間圧伸 ,  ハードウェア ,  負荷 ,  誤り訂正 ,  構成 ,  Galois体 ,  回路シミュレーション ,  ASIC
準シソーラス用語： *自己修復 ,  自己診断 ,  時間短縮 ,  オーバヘッド ,  回路構造

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 自己修復 ,  Reed-Solomon符号 ,  ハードウェア ,  オーバヘッド ,  自己診断 ,  技法